Modelowanie, diagnostyka i sterowanie nadrzędne procesami
W książce przedstawiono zaawansowane metody i algorytmy modelowania procesów dynamicznych, odkrywania wiedzy w bazach danych, budowy symulatorów, diagnostyki procesów i systemów oraz nadrzędnego sterowania, samostrojenia i adaptacji nastaw pętli regulujących. Opisane metody zostały zaimplementowane w oryginalnym w skali światowej systemie automatyki i diagnostyki - DiaSter. Uniwersalność rozwiązań przyjętych w systemie daje możliwość jego szerokiego zastosowania między innymi w przemyśle energetycznym, chemicznym, farmaceutycznym czy spożywczym. Ze względu na otwartą architekturę możliwe jest połączenie systemu DiaSter praktycznie z dowolnymi systemami automatyki.
Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2009, ISBN 978-83-204-3612-9
Dodruk I - PWN, 2017, ISBN 978-83-01-19588-5
Artificial Neural Networks for the Modelling and Fault Diagnosis of Technical Processes
Książka opisuje specyficzną klasę sieci neuronowych - sieci lokalnie rekurencyjne globalnie jednokierunkowe oraz ich zastosowanie do modelowania nieliniowych obiektów dynamicznych oraz diagnostyki uszkodzeń procesów przemysłowych. Monografia jest podzielona na dziewięć rozdziałów. Rozdział pierwszy zawiera wprowadzenie do teorii modelowania i diagnostyki uszkodzeń procesów technicznych. W rozdziale drugim przedstawiono zadanie modelowania w kontekście projektowania układów diagnostyki technicznej z naciskiem na schemat diagnostyczny z modelami obiektu i rolę jaką pełnią w nim sieci neuronowe. Rozważane sieci lokalnie rekurencyjne globalnie jednokierunkowe są szczegółowo opisane w rozdziale trzecim wraz z analizą ich właściwości oraz algorytmami uczenia. Kolejne trzy rozdziały zawierają dyskusję na temat właściwości aproksymacyjnych, stabilności i stabilizacji modelu podczas uczenia oraz wyboru optymalnych sekwencji uczących. Rozdział siódmy opisuje metody podejmowania decyzji o stanach awaryjnych obejmujące progowanie stałe oraz adaptacyjne. Następny rozdział to oryginalne wyniki badań przeprowadzone przez autora w obszarze detekcji i lokalizacji uszkodzeń w procesach przemysłowych. Rozdział ostatni zawiera podsumowanie oraz kierunki dalszych badań w dziedzinie modelowania i diagnostyki uszkodzeń procesów technicznych.
Springer, 2008, ISBN 978-3-540-79871-2
